Retour à la table des matières

Guide d’utilisation des diagnostics DOS

Ce chapitre contient les informations suivantes :

Introduction

Conditions préalables

Liste des fonctions

Description des fonctions

Tests de diagnostic

Messages d'erreur

Introduction

Ce document contient des informations relatives à l'utilisation du programme d'utilitaires de diagnostics DOS avec le contrôleur Ethernet NetXtreme™ de Broadcom.

Toutes les commandes peuvent être lancées à partir de l’invite DOS ou CLI (Command Line Interface, interface de ligne de commande). Lorsque le programme est exécuté sans paramètre, le mode CLI est activé. Dans le cas contraire, le paramètre est assimilé à la commande à exécuter et ferme ensuite le programme.

En mode CLI, supposant que trois périphériques sont installés dans le système, toutes les informations connexes sont systématiquement affichées avant chaque invite, comme le montre l’exemple suivant :

C Brd:Rv    Bus   PCI Spd Base Irq EEP     MAC          Fmw     Configuration
- ------- ------- --- --- ---- -- ---- ------------ ----------- --------------
0 5702:A2 02:0A:0 32  33  FEAF  3 128K 0010180416DB 5702-v2.24a PW,auto
1 5702:A2 02:0B:0 32  33  FEAD 11 128K 0010180416C4 5702-v2.24a PW,auto
 

Retour en haut

Conditions préalables

Retour en haut

Pour accéder à la liste de fonctions, entrez la commande "b57udiag -cmd".

Liste des fonctions

Commande	Fonctions
upgfrm	Mettre à niveau PXE ou le Boot Code à partir d’un fichier
dir	Afficher le répertoire du fichier dans NVRAM
setwol	Activer/désactiver WOL
setpxe	Activer/désactiver PXE
setasf	Activer/désactiver ASF
setmba	Activer des occurrences multiples de Boot Agent
nictest	Exécuter une série de tests NIC
exit	Quitter le programme
device	Afficher le périphérique ou changer de périphérique
version	Afficher la version du programme
help	Afficher les commandes disponibles
dos	Exécuter une commande DOS
reset	Réinitialiser la mémoire
cls	Vider l'écran
asfprg	Programmer les microprogrammes ASF dans NVRAM

Retour en haut

Description des fonctions

upgfrm

Commande : upgfrm

Description : Met à niveau PXE ou le Boot Code à partir d'un fichier.

Syntaxe : upgfrm [-options]

Cette commande lit le code dans un fichier et le programme dans la zone pxe ou la zone d'initialisation. Vous devez indiquer les deux paramètres, la destination de la programmation ("pxe" ou "initialisation") et le nom du fichier.

Options :
-f <chaîne>	Fichier d'entrée
-p	Met à niveau le code PXE
-b	Met à niveau le Boot Code
-d	N'exécute pas de vérification de périphérique

dir

Commande : dir

Description : Affiche le répertoire du fichier dans NVRAM.

Exemple :

Entry Type SRAM    Addr EEP  Offset     Length   Execute Version 
----- ------------ --------- ---------- -------- ------- ------- 
       BootCode    08003000  00000200   000011B0 CPUA (2) 5702-v2.24a        
  0    PXE         00010000  000013B0   0000C854 no       2.2.7

setwol

Commande : set wol

Description : Active/désactive WOL.

Syntaxe : setwol [ -options]

Options :
-e	Active WOL.
-d	Désactive WOL.

setpxe

Commande : set pxe

Description : Active/désactive PXE et définit la vitesse PXE.

Syntaxe : setpxe [ -options]

Options :
-e	Active PXE
-d	Désactive PXE
-s<DEC>	Définit la vitesse PXE (défaut = 0)
	Vitesse : 0 = auto 1 = 10 HD 2 = 10 FD 3 = 100 HD 4 = 100 FD

setasf

Commande : setasf

Description : Active/désactive ASF.

Syntaxe : setasf [-options]

Options :
-e	Active ASF.
-d	Désactive ASF.

setmba

Commande : setmba

Description : Active/désactive des occurrences multiples de Boot Agent.

Syntaxe : setmba [ -options]

Options :
-e<DEC>	Spécifie le protocole MBA.
	Protocole : 0 = pxe 1 = rpl 2 = bootp
-d	Désactive MBA.
-s<DEC>	Définit la vitesse PXE (défaut = 0).
	Vitesse : 0 = auto 1 = 10 HD 2 = 10 FD 3 = 100 HD 4 = 100 FD

nictest

Commande : nictest

Description : Exécute une série de tests NIC.

Syntaxe : nictest [liste de tests]

Exemple : Consultez Tests de diagnostic pour obtenir des précisions concernant la description des tests.

abcd	Exécute tous les tests.
b	Exécute tous les tests du groupe b.
a3 b1	Exécute les tests a3 et b1 uniquement.
a124b2	Exécute les tests a1, a2, a4 et b2.

Si vous n'entrez pas de liste de tests, le paramètre diagcfg est utilisé.

Options :
-n <DEC>	itération
-e	Exécute également la vérification NVRAM.

exit

version

Commande : version

Description : Affiche la version du logiciel.

Syntaxe : version

Exemple :

C:\>b57udiag –version
Copyright (c) 2000, 2001 Broadcom Corporation, tous droits réservés
Broadcom NetXtreme User Diagnostic 3.09 (06/14/02)

help

Commande : help

Description : Affiche les commandes d'aide disponibles.

Syntaxe : help

Exemple :

C:\>b57udiag –help
Copyright (c) 2000, 2001, 2002 Broadcom Corporation, tous droits réservés
Broadcom NetXtreme User Diagnostic 3.09 (06/14/02)

Commande	Fonctions
upgfrm	Mettre à niveau PXE ou le Boot Code à partir d’un fichier
dir	Afficher le répertoire du fichier dans NVRAM
setwol	Activer/désactiver WOL
setpxe	Activer/désactiver PXE
setasf	Activer/désactiver ASF
nictest	Exécuter une série de tests NIC
exit	Quitter le programme
device	Afficher le périphérique ou changer de périphérique
version	Afficher la version du programme
help	Afficher les commandes disponibles
dos	Exécuter une commande DOS
reset	Réinitialiser la mémoire
cls	Vider l'écran
asfprg	Programmer les microprogrammes ASF dans NVRAM

dos

asfprg

Commande : asfprg

Description : Programme les microprogrammes asf dans NVRAM.

Syntaxe : asfprg [init_img [rx_img [tx_img]]]

Les noms de fichier par défaut, asfinit.bin, asfcpua.bin et asfcpub.bin, peuvent être écrasés par des paramètres.

Options :
-v<HEX>	Niveau de prolixe (0,1,2) (déf=00000001)

 

Retour en haut

Tests de diagnostic

Les tests sont divisés en quatre groupes, tests de registre (A), tests de mémoire (B), tests divers (C) et tests de données (D).

Nom des tests

Groupe A.

A1. Indirect Register Test (Test de registre indirect)
A2. Control Register Test (Test des registres de contrôle)
A3. Interrupt Test (Test d'interruption)
A4. BIST
A5. PCI Cfg Register Test (Test des registres Cfg PCI)

Groupe B.

B1. Scratch Pad Test (Test de zone de travail)
B2. BD SRAM Test (Test SRAM BD)
B3. DMA SRAM Test (Test SRAM DMA)
B4. MBUF SRAM Test (Test SRAM MBUF)
B5. MBUF SRAM via DMA Test (Test MBUF SRAM via DMA)
B6. External SRAM Test (Test externe SRAM)

Groupe C.

C1. EEPROM Test (Test EEPROM)
C2. CPU Test (Test UC)
C3. DMA Test (Test DMA)
C4. MII Test (Test MII)
C5. VPD Test (Test VPD)
C6. ASF Test (Test ASF)
C7. ROM Expansion Test (Test d'extension ROM)

Groupe D.

D1. Mac Loopback Test (Test de bouclage Mac)
D2. Phy Loopback Test (Test de bouclage Phy)
D3. RJ-45 Loopback Test (Test de bouclage RJ-45)
D4. MII Miscellaneous Test (Tests divers MII)
D5. MSI Test (Test MSI)

Description des tests

A1. Indirect Register Test (Test de registre indirect)

Commande : regtest -i

Fonction : Selon la méthode d’adressage indirect, écrit des données incrémentielles dans la table de hachage des registres MAC et effectue une relecture de vérification. La mémoire est sollicitée en lecture/écriture 100 fois lors de l'incrémentation des données de test.

Défaut : Test activé

A2. Control Register Test (Test des registres de contrôle)

Commande : regtest

Fonction : Chaque registre spécifié dans la configuration contient des définitions de bit de lecture seule et de bit de lecture/écriture. Le test écrit des 0 et des 1 dans les bits de test afin de s'assurer que les bits de lecture seule ne sont pas modifiés et que les bits de lecture/écriture sont modifiés en conséquence.

Défaut : Test activé.

Table de registres par défaut

Le test tente de lire les définitions de registre dans le fichier de configuration des registres, ctrlreg.txt. Si le fichier n’existe pas, un registre décalé par défaut et des bits de masquage sont utilisés.

Offset     R/O Mask   R/W Mask
0x00000400 0x00000000 0x007fff8c
0x00000404 0x03800107 0x00000000

A3. Interrupt Test (Test d'interruption)

Commande : intrtest

Fonction : Ce test contrôle la fonctionnalité des interruptions. Pour ce faire, il active une interruption et attend qu'elle se produise pendant 500 ms. Il signale ensuite une erreur s'il n'a pas pu générer d'interruption.

Défaut : Activé

A4. BIST

Commande : bist

Fonction : Le test BIST (Hardware Built-In Self-Test, Test automatique intégré matériel) lance le BIST et attend le résultat du test renvoyé par le matériel.

Défaut : En raison de la défaillance intermittente, ce test est actuellement désactivé par défaut.

A5. PCI Cfg Register Test (Test des registres Cfg PCI)

Commande : pcicfg

Fonction : Ce test vérifie l’intégrité de l’accès aux registres de configuration PCI.

B1. Scratch Pad Test (Test de zone de travail)

Commande : memtest -s

Fonction : Ce test contrôle la SRAM de travail sur la carte. Les tests suivants sont exécutés :

• Test de combinaison de données : Ecrit les données de test dans la SRAM, puis les relit pour s’assurer de leur intégrité. Les données utilisées par le test sont 0x00000000, 0xffffffff, 0xaa55aa55 et 0x55aa55aa.

• Second test de combinaison de données : Ecrit les données de test dans la SRAM. Ecrit les données de test complémentaires dans l’adresse suivante. Relit les deux groupes de données pour s’assurer de leur intégrité. Au terme du test, le programme relit les données une dernière fois pour s'assurer que leur intégrité n'a pas été affectée. Les données utilisées par le test sont 0x00000000, 0xffffffff, 0xaa55aa55 et 0x55aa55aa.

• Test des adresses : Ecrit des données incrémentielles uniques dans chaque adresse. Relit les données pour s’assurer de leur intégrité. Lorsque l'adresse complète est remplie de données uniques, le programme les relit pour s'assurer de leur intégrité.

• Test du bit WalkingOne : Pour chaque adresse, le premier groupe de données est écrit et relu afin d'être vérifié. Le programme décale ensuite les données vers la gauche d'un bit, afin de les doubler, et exécute à nouveau le test. Le test est répété 32 fois jusqu’à ce que le bit de test soit décalé hors de l'adresse de test. Le même test est réexécuté pour l’ensemble de la plage gérée.

• Test de données pseudo-aléatoire Un jeu de données pseudo-aléatoire pré-calculé est utilisé pour écrire des données uniques dans chaque RAM de test. Une fois le test exécuté avec succès, le programme relit les données une dernière fois pour s'assurer de leur intégrité.

Défaut : Activé

B2. BD SRAM Test (Test SRAM BD)

Commande : memtest -b

Fonction : Ce test contrôle la SRAM BD. La procédure d'exécution est identique à celle du test de zone de travail décrit à la section B1.

Défaut : Activé

B3. DMA SRAM Test (Test SRAM DMA)

Commande : memtest -d

Fonction : Ce test contrôle la SRAM DMA en exécutant le test de zone de travail décrit à la section B1.

Défaut : Activé

B4. MBUF SRAM Test (Test SRAM MBUF)

Commande : memtest -m

Fonction : Ce test contrôle la SRAM DMA en exécutant le test de zone de travail décrit à la section B1.

Défaut : Activé

B5. MBUF SRAM via DMA Test (Test SRAM MBUF via DMA)

Commande : memtest -x

Fonction : Huit combinaisons de données sont utilisées dans le test, fondé sur un tampon d’une capacité de 0x1000. Avant chaque test de combinaison, le tampon est initialisé et rempli d’une combinaison de données. Il effectue ensuite la transmission du tampon DMA 0x1000 du tampon hôte à la mémoire MBUF NIC. L’intégrité des données de MBUF est vérifiée en les comparant à la mémoire hôte et la DMA est reproduite pour l’ensemble du tampon MBUF. Il effectue ensuite la réception de la DMA, du NIC à l’hôte. Le tampon de test de 0x1000 octets est remis à zéro avant chaque réception de DMA. Après vérification de l’intégrité des données, le test est répété pour l’ensemble de la plage SRAM MBUF. Les combinaisons de données sont décrites ci-dessous.

Combinaison utilisée par le test	Description
16 00 et 16 FF	Remplit l’intégralité du tampon DMA hôte de 16 octets de 00, puis de 16 octets de FF.
16 FF et 16 00	Remplit l’intégralité du tampon DMA hôte de 16 octets de FF, puis de 16 octets de 00.
32 00 et 32 FF	Remplit l’intégralité du tampon DMA hôte de 32 octets de 00, puis de 32 octets de FF.
32 00 et 32 FF	Remplit l’intégralité du tampon DMA hôte de 32 octets de 00, puis de 32 octets de FF.
00000000	Remplit l’intégralité du tampon DMA hôte de zéros.
FFFFFFFF	Remplit l’intégralité du tampon DMA hôte de FF.
AA55AA55	Remplit l’intégralité du tampon DMA hôte de données 0xAA55AA55.
55AA55AA	Remplit l’intégralité du tampon DMA hôte de données 0xAA55AA55.

Défaut : Activé

B6. External SRAM Test (Test externe SRAM)

Commande : memtest -e

Fonction : Ce test contrôle la SRAM DMA en exécutant le test de zone de travail décrit à la section B1.

Défaut : Désactivé

C1. EEPROM Test (Test EEPROM)

Commande : setest

Fonction : Des données de test incrémentielles sont utilisées dans le test EEPROM. Le test remplit la plage contrôlée de données de test, puis les relit pour vérifier leur contenu. Au terme du test, il remplit les données de zéros pour vider la mémoire.

Défaut : Activé

C2. CPU Test (Test UC)

Commande : cputest

Fonction : Ce test ouvre le fichier cpu.bin. Si celui-ci existe et que son contenu est correct, il charge le code dans les Rx et Tx de l'UC et vérifie l’exécution de l’unité centrale.

Défaut : Activé

C3. DMA Test (Test DMA)

Commande : dmatest

Fonction : Les DMA à priorité faible et élevée sont toutes deux testées. Ce test déplace les données de la mémoire hôte à la SRAM NIC, vérifie les données puis les transfère à nouveau vers la mémoire hôte pour s'assurer de leur intégrité.

Défaut : Activé

C4. MII Test (Test MII)

Commande : miitest

Fonction : La fonction est identique au test des registres de contrôle A2. Chaque registre spécifié dans la liste de configuration définit des bits de lecture seule et de lecture/écriture. Le test écrit des 0 et des 1 dans les bits de test, afin de s'assurer que les valeurs des bits de lecture seule ne sont pas modifiées et que les bits de lecture/écriture sont modifiés en conséquence.

Défaut : Test activé.

Table de registres par défaut

Le test tente de lire les définitions de registre dans le fichier de configuration des registres, miireg.txt. Si le fichier n’existe pas, la table suivante est utilisée.

Offset 		R/O Mask	R/W Mask
0x00 		0x0000 		0x7180 
0x02 		0xffff 		0x0000 
0x03 		0xffff 		0x0000 
0x04 		0x0000 		0xffff 
0x05 		0xefff 		0x0000 
0x06 		0x0001 		0x0000 
0x07 		0x0800 		0xb7ff 
0x08 		0xffff 		0x0000 
0x09 		0x0000 		0xff00 
0x0a 		0x7c00 		0x0000 
0x10 		0x0000 		0xffbf 
0x11 		0x3300 		0x0000 
0x19 		0x001f 		0x0000 
0x1e 		0x0000 		0xffff 
0x1f 		0x0000 		0xffff 

C5. VPD Test (Test VPD)

Commande : vpdtest

Fonction : Le test VPD enregistre le contenu de la VPD avant de s’exécuter. Une fois cette tâche terminée, il écrit une des cinq combinaisons de données de test, 0xff, 0xaa, 0x55, les données incrémentielles ou les données décrémentielles, sur la mémoire VPD. Une combinaison de données incrémentielles est utilisée par défaut. Le test écrit et relit les données de l’ensemble de la plage gérée, puis restaure le contenu d’origine.

Défaut : Désactivé

C6. ASF Test (Test ASF)

1. Test de réinitialisation

   Ce test définit le bit de réinitialisation et vérifie la remise à zéro automatique. Il vérifie la valeur de réinitialisation des registres.

2. Test de mise en correspondance des événements

   Ce test définit le bit SMB_ATTN. En modifiant les bits ASF_ATTN LOC, il vérifie les bits de mise en correspondance dans les bits d’événements TX_CPU ou RX_CPU.

3. Test de compteur

C7. ROM Expansion Test (Test d'extension ROM)

Commande : romtest

Fonction : Cette fonction teste la capacité d’activation/de désactivation/d'accès à la ROM d’extension sur le périphérique.

D1. Mac Loopback Test (Test de bouclage Mac)

Commande : pkttest -m

Fonction : Ce test vérifie la transmission/réception de données en mode de bouclage interne. Il initialise le MAC en mode de bouclage interne et transmet 100 paquets. Les données doivent être réacheminées vers la voie de réception et reçues par le programme de réception, qui vérifie leur intégrité. A moins que Gigabit ne soit activé, ce test utilise le débit 100 Mbits/s.

Défaut : Activé

D2. Phy Loopback Test (Test de bouclage Phy)

Commande : pkttest -p

Fonction : Ce test est identique au test de bouclage MAC D1, excepté que les données sont réacheminées via le périphérique de gestion des couches physiques. A moins que Gigabit ne soit activé, ce test utilise le débit 100 Mbits.

Défaut : Activé

D3. RJ-45 Loopback Test (Test de bouclage RJ-45)

D4. MII Miscellaneous Test (Tests MII divers)

Commande : Aucune

Fonction : Cette fonction teste les capacités auto-polling et phy-interrupt, soit les fonctionnalités du PHY.

Défaut : Activé

D5. MSI Test (Test MSI)

Commande : msitest

Fonction : Cette fonction vérifie la capacité MSI (Message Signal Interrupt) du périphérique. Consultez la spécification PCI, version 2.2, pour obtenir une définition de MSI.

Défaut : Désactivé

 

Retour en haut

Messages d'erreur

/* 0 */ 	"PASS" (REUSSI),
/* 1 */ 	"Got 0x%08X @ 0x%08X. Expected 0x%08X" ("0x%08X @ 0x%08X.lu, 0x%08X prévu),
/* 2 */ 	"Cannot perform task while chip is running" (Impossible de réaliser une tâche lors de l’exécution de la puce),
/* 3 */ 	"Invalid NIC device" (Périphérique NIC incorrect),
/* 4 */ 	"Read only bit %s got changed after writing zero at offset 0x%X" (%s bits de lecture seule ont changé après l’écriture de zéro au décalage 0x%X),
/* 5 */ 	"Read only bit %s got changed after writing one at offset 0x%X" (%s bits de lecture seule ont changé après l’écriture de 1 au décalage 0x%X),
/* 6 */ 	"Read/Write bit %s did not get cleared after writing zero at offset 0x%X" (%s bits de lecture/écriture n’ont pas été supprimés après l’écriture de zéro au décalage 0x%X),
/* 7 */ 	"Read/Write bit %s did not get set after writing one at offset 0x%X", (%s bits de lecture/écriture n’ont pas été définis après l’écriture de 1 au décalage 0x%X),
/* 8 */ 	"BIST failed" (Echec de BIST),
/* 9 */ 	"Could not generate interrupt" (Impossible de générer une interruption),
/* 10 */ 	"Aborted by user" (Abandonné par l’utilisateur),
/* 11 */ 	"Tx DMA:Got 0x%08X @ 0x%08X. Expected 0x%08X" (Tx DMA, 0x%08x lu @ 0x%08x). Expected 0x%08X" (0x%08X prévu),    
/* 12 */ 	"Rx DMA:Got 0x%08X @ 0x%08X. Expected 0x%08X" (Rx DMA, 0x%08x lu @ 0x%08X). Expected 0x%08X" (0x%08X prévu),    
/* 13 */ 	"Tx DMA failed" (Echec de Tx DMA),
/* 14 */ 	"Rx DMA failed" (Echec de Rx DMA),
/* 15 */ 	"Data error, got 0x%08X at 0x%08X, expected 0x%08X" (Erreur de transmission de données, 0x%08X lu à 0x%08X, 0x%08X prévu),
/* 16 */ 	"Second read error, got 0x%08X at 0x%08X, expected 0x%08X" (Deuxième erreur de lecture, 0x%08X lu à 0x%08X, 0x%08X prévu),
/* 17 */ 	"Failed writing EEPROM at 0x%04X" (Echec d’écriture de EEPROM à 0x%04X),
/* 18 */ 	"Failed reading EEPROM at 0x%04X" (Echec de lecture de EEPROM à 0x%04X),
/* 19 */ 	"EEPROM data error, got 0x08X at 0x04X, expected 0x%08X" (Erreur de transmission de données EEPROM, 0x%08X lu à 0x04, 0x%08X prévu),
/* 20 */ 	"Cannot open file %s" (Impossible d’ouvrir le fichier %s),
/* 21 */ 	"Invalid CPU image file %s" (Fichier d’image %s de l’unité centrale non valide),
/* 22 */ 	"Invalid CPU image size %d" (Taille d’image %d de l’unité centrale non valide),
/* 23 */ 	"Cannot allocate memory" (Affectation de mémoire impossible),
/* 24 */ 	"Cannot reset CPU" (Impossible de réinitialiser l’unité centrale),
/* 25 */ 	"Cannot release CPU" (Impossible de libérer l’unité centrale),
/* 26 */ 	"CPU test failed" (Echec du test de l’unité centrale),
/* 27 */ 	"Invalid Test Address Range\nValid NIC address is 0x%08X-0x%08X and exclude 0x%08X-0x%08X" (Plage d’adresses de test non valide\nL'adresse NIC correcte est 0x%08X-0x%08X et exclut 0x%08X-0x%08X),
/* 28 */    "DMA:Got 0x%08X @ 0x%08X. Expected 0x%08X" (DMA : 0x%08X @ 0x%08X lu. 0x%08X prévu), 
/* 29 */    "Unsupported PhyId %04X:%04X" (PhyId %04X:%04X n’est pas pris en charge),
/* 30 */    "Too many registers specified in the file, max is %d" (Trop de registres spécifiés dans le fichier, le max est %d),
/* 31 */ 	"Cannot write to VPD memory" (Enregistrement impossible dans la mémoire VPD),
/* 32 */ 	"VPD data error, got %08X @ 0x04X, expected %08X" (Erreur de transmission de données VPD, %08X @ 0x04X lu, %08X prévu),
/* 33 */ 	"No good link! Check Loopback plug" (Mauvaise liaison ! Vérifier connexion de bouclage),
/* 34 */ 	"Cannot TX Packet!" (Transmission de paquet impossible !),
/* 35 */ 	"Requested to Tx %d. Only %d is transmitted" (Demande de transmission de %d. Transmission de %d uniquement),
/* 36 */	"Expected %d packets. Only %d good packet(s) have been received\n%d unknown packets have been received.\n%d bad packets have been received." (%d paquets prévus. Seuls %d paquets valides ont été reçus\n%d paquets inconnus ont été reçus.\n%d paquets non valides ont été reçus),
/* 37 */ 	"%c%d is an invalid Test" (%c%d est un test incorrect),
/* 38 */ 	"EEPROM checksum error" (Erreur de total de contrôle EEPROM),
/* 39 */ 	"Error in reading WOL/PXE" (Erreur de lecture WOL/PXE),
/* 40 */ 	"Error in writing WOL/PXE" (Erreur d’écriture WOL/PXE),
/* 41 */ 	"No external memory detected" (Aucune mémoire externe détectée),
/* 42 */ 	"DMA buffer %04X is large, size must be less than %04X" (Le volume du tampon DMA %04X est important, il doit être inférieur à %04X),
/* 43 */ 	"File size %d is too big, max is %d" (Le volume du fichier %d est trop important, limite correspond à %d),
/* 44 */ 	"Invalid %s" (%s non valide),
/* 45 */ 	"Failed writing 0x%x to 0x%x" (Echec d’écriture de 0x%x sur 0x%x),
/* 46 */ 	"",
/* 47 */ 	"Ambiguous command" (Commande ambigüe),
/* 48 */ 	"Unknown command" (Commande inconnue),
/* 49 */ 	"Invalid option" (Option non valide),
/* 50 */ 	"Cannot perform task while chip is not running. (need driver)", (Exécution de tâche impossible si puce ne fonctionne pas), (pilote nécessaire),
/* 51 */ 	"Cannot open register define file or content is bad" (Impossible d’ouvrir le fichier de définition de registre ou le contenu est altéré),
/* 52 */ 	"ASF Reset bit did not self-cleared" (Le bit de réinitialisation ASF ne s’est pas libéré automatiquement),
/* 53 */ 	"ATTN_LOC %d cannot be mapped to %cX CPU event bit %d" (Impossible de faire correspondre ATTN_LOC%d à %cX CPU, bit d’événement %d),
/* 54 */ 	"%s Regsiter is not cleared to zero after reset" (Le registre %s n’est pas mis à zéro après la réinitalisation),
/* 55 */ 	"Cannot start poll_ASF Timer" (Impossible de démarrer minuteur poll_ASF),
/* 56 */ 	"poll_ASF bit did not get reset after acknowleged" (Le bit poll_ASF n'a pas été réinitialisé après l'accusé de réception),
/* 57 */ 	"Timestamp Counter is not counding" (L’horodateur n’est pas en marche),
/* 58 */ 	"%s Timer is not working" (Le minuteur %s ne marche pas),
/* 59 */ 	"Cannot clear bit %s in %cX CPU event register" (Impossible de mettre le bit %s à zéro dans le registre d’événements de l'unité centrale %cX),
/* 60 */ 	"Invalid "EEPROM_FILENAME" file size, expected %d but only can read %d bytes" (Taille de fichier "FICHIER_EEPROM non valide", %d prévu mais lecture de %d octets seulement),
/* 61 */ 	"Invalid magic value in %s, expected %08x but found %08x" (Valeur magique incorrecte dans %s, %08x prévu mais %08x localisé),
/* 62 */ 	"Invalid manufature revision, expected %c but found %c" (Révision de fabrication non valide, %c prévu mais %c localisé),
/* 63 */ 	"Invalid Boot Code revision, expected %d.%d but found %d.%d" (Révision non valide du Boot Code, %d prévu mais %d.%d localisé),
/* 64 */ 	"Cannot write to EEPROM" (Ecriture sur EEPROM impossible),
/* 65 */ 	"Cannot read from EEPROM" (Lecture de EEPROM impossible),
/* 66 */ 	"Invalid Checksum" (Total de contrôle incorrect),
/* 67 */ 	"Invalid Magic Value" (Valeur magique incorrecte),
/* 68 */ 	"Invalid MAC address, expected %02X-%02X-%02X-%02X-%02X-%02X" (Adresse MAC non valide, %02X-%02X-%02X-%02X-%02X-%02X prévus),
/* 69 */ 	"Slot error, expected an UUT to be found at location %02X:%02X:00" (Erreur de logement, localisation prévue d’un UUT à l’emplacement %02X:%02X:00),
/* 70 */ 	"Adjacent memory has been corrupted while testing block 0x%08x-0x%08x\nGot 0x%08x @ address 0x%08x. Expected 0x%08x (La mémoire adjacente a été altérée lors du contrôle du bloc 0x%08x 0x%08x\n0x%08x lu à l’adresse 0x%08x. 0x%08x prévu),
/* 71 */ 	"The function is not Supported in this chip" (La fonction n’est pas prise en charge dans cette puce),
/* 72 */ 	"Packets received with CRC error" (Paquets reçus avec erreur CRC),
/* 73 */ 	"MII error bits set: %04x" (Série de bits d’erreur MII : %04x),
/* 74 */ 	"CPU does not initialize MAC address register correctly" (L’unité centrale n’initialise pas le registre d’adresses MAC correctement),
/* 75 */ 	"Invalid firmware file format" (Format de fichiers de microprogramme non valide),
/* 76 */ 	"Resetting TX CPU Failed" (Echec de réinitialisation de TX CPU),
/* 77 */ 	"Resetting RX CPU Failed" (Echec de réinitialisation de RX CPU),
/* 78 */ 	"Invalid MAC address" (Adresse MAC non valide),
/* 79 */ 	"Mac address registers are not initialized correctly" (Les registres d’adresses Mac ne sont pas initialisés correctement),
/* 80 */ 	"EEPROM Bootstrap checksum error" (Erreur de total de contrôle d’initialisation d'EEPROM),

Retour en haut

Retour à la table des matières