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Guía del usuario del programa de diagnóstico para DOS

Contenido de este capítulo:

Introducción

Requisitos previos

Lista de funciones

Descripción de funciones

Pruebas de diagnóstico

Mensajes de error

Introducción

En este documento se facilita información sobre cómo usar el programa de utilidades de diagnóstico para DOS en Broadcom NetXtreme™ Ethernet Controller.

Todos los comandos se pueden introducir desde el símbolo del sistema DOS o desde el símbolo de CLI (Command Line Interface, Interfaz de línea de comandos). Cuando un programa se ejecuta sin parámetros, se introduce el modo CLI. En caso contrario, el parámetro se utilizará como el comando que hay que ejecutar y saldrá del programa después.

En el modo CLI, suponiendo que haya tres dispositivos en el sistema, toda la información de dispositivos se muestra antes de cada símbolo del sistema, como en el siguiente ejemplo:

C Brd:Rv    Bus   PCI Spd Base Irq EEP     MAC          Fmw     Configuration
- ------- ------- --- --- ---- -- ---- ------------ ----------- --------------
0 5702:A2 02:0A:0 32  33  FEAF  3 128K 0010180416DB 5702-v2.24a PW,auto
1 5702:A2 02:0B:0 32  33  FEAD 11 128K 0010180416C4 5702-v2.24a PW,auto
 

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Requisitos previos

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Para acceder a la lista de funciones introduzca el comando "b57udiag -cmd".

Lista de funciones

Comando	Funciones
upgfrm	Actualizar el código PXE o el de inicio desde un archivo
dir	Mostrar el directorio de archivos en NVRAM
setwol	Activar o desactivar WOL
setpxe	Activar o desactivar PXE
setasf	Activar o desactivar ASF
setmba	Activar múltiples Boot Agents
nictest	Ejecutar un conjunto de pruebas de NIC
exit	Salir del programa
device	Mostrar o cambiar un dispositivo
version	Mostrar la versión del programa
help	Mostrar los comandos disponibles
dos	Ejecutar un comando del DOS
reset	Reiniciar el procesador
cls	Borrar la pantalla
asfprg	Programar el firmware ASF en NVRAM

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Descripción de funciones

upgfrm

Comando: upgfrm

Descripción: Actualiza el código PXE o el código de inicio desde un archivo.

Sintaxis: upgfrm [-opciones]

Este comando lee el código de un archivo y lo programa en el pxe o en el área de arranque. Hay que especificar ambos parámetros (el destino de la programación, "pxe" o "boot", y el nombre de archivo).

Opciones:
-f <string>	Archivo de entrada
-p	Actualizar el código PXE
-b	Actualizar el código de arranque
-d	No comprobar los dispositivos

dir

Comando: dir

Descripción: Muestra el directorio de archivos en NVRAM

Ejemplo:

Entry Type SRAM    Addr EEP  Offset     Length   Execute Version 
----- ------------ --------- ---------- -------- ------- ------- 
       BootCode    08003000  00000200   000011B0 CPUA (2) 5702-v2.24a        
  0    PXE         00010000  000013B0   0000C854 no       2.2.7

setwol

Comando: set wol

Descripción: Activa o desactiva WOL.

Sintaxis: setwol [ -opciones]

Opciones:
-e	Enable WOL (Activar WOL)
-d	Disable WOL (Desactivar WOL)

setpxe

Comando: set pxe

Descripción: Activa o desactiva PXE y establece la velocidad de PXE.

Sintaxis: setpxe [ -opciones]

Opciones:
-e	Enable PXE (Activar PXE)
-d	Disable PXE (Desactivar PXE)
-s<DEC>	Especificar la velocidad de PXE (valor predeterminado = 0)
	Velocidad: 0 = auto 1 = 10 HD 2 = 10 FD 3 = 100 HD 4 = 100 FD

setasf

Comando: setasf

Descripción: Activar o desactivar ASF.

Sintaxis: setasf [-opciones]

Opciones:
-e	Enable ASF (Activar ASF)
-d	Desactivar ASF

setmba

Comando: setmba

Descripción: Activa o desactiva múltiples Boot Agents.

Sintaxis: setmba [ -opciones]

Opciones:
-e<DEC>	Especificar protocolo MBA
	Protocolo: 0 = pxe 1 = rpl 2 = bootp
-d	Desactivar MBA
-s<DEC>	Especificar la velocidad de MBA (valor predeterminado = 0)
	Velocidad: 0 = auto 1 = 10 HD 2 = 10 FD 3 = 100 HD 4 = 100 FD

nictest

Comando: nictest

Descripción: Ejecuta un conjunto de pruebas de NIC

Sintaxis: nictest [lista de pruebas]

Ejemplo: Consulte la sección Pruebas de diagnóstico si desea conocer una descripción detallada de las pruebas.

abcd	ejecuta todas las pruebas
b	ejecuta todas las pruebas del grupo b
a3 b1	ejecuta exclusivamente las pruebas a3 y b1
a124b2	ejecuta las pruebas a1, a2, a4 y b2

Si no se introduce ninguna lista, se utilizará el valor diagcfg.

Opciones:
-n <DEC>	repetición
-e	ejecuta también una verificación de NVRAM

exit

version

Comando: version

Descripción: Muestra la versión del software.

Sintaxis: version

Ejemplo:

C:\>b57udiag –version
Copyright (c) 2000, 2001 Broadcom Corporation, all rights reserved
Broadcom NetXtreme User Diagnostic 3.09 (06/14/02)

help

Comando: help

Descripción: Muestra los comandos de ayuda disponibles

Sintaxis: help

Ejemplo:

C:\>b57udiag –help
Copyright (c) 2000, 2001, 2002 Broadcom Corporation, all rights reserved
Broadcom NetXtreme User Diagnostic 3.09 (06/14/02)

Comando	Funciones
upgfrm	Actualizar el código PXE o el de inicio desde un archivo
dir	Muestra el directorio de archivos en NVRAM
setwol	Activar o desactivar WOL
setpxe	Activar o desactivar PXE
setasf	Activar o desactivar ASF
nictest	Ejecutar un conjunto de pruebas de NIC
exit	Salir del programa
device	Mostrar o cambiar un dispositivo
version	Mostrar la versión del programa
help	Mostrar los comandos disponibles
dos	Ejecutar un comando del DOS
reset	Reiniciar el procesador
cls	Borrar la pantalla
asfprg	Programar el firmware ASF en NVRAM

dos

asfprg

Comando:asfprg

Descripción: Programa el firmware asf en NVRAM.

Sintaxis: asfprg [init_img [rx_img [tx_img]]]

Los nombres predeterminados de los archivos son: asfinit.bin, asfcpua.bin y asfcpub.bin; los cuales pueden sobrescribirse mediante parámetros.

Opciones:
-v<HEX>	Verbose leverl (0,1,2) (val. pred.=00000001)

 

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Pruebas de diagnóstico

Las pruebas se dividen en cuatro grupos: "Register Tests" (Pruebas de registro), "Memory Tests" (Pruebas de memoria), "Miscellaneous Tests" (Pruebas varias) y "Data Tests" (Pruebas de datos). Se enumeran como los grupos “A”, “B”, “C” y “D”.

Nombres de las pruebas

Grupo A

A1. Indirect Register Test (Prueba de registro indirecta)
A2. Control Register Test (Prueba de registro de control)
A3. Interrupt Test (Prueba de interrupción)
A4. BIST
A5. PCI Cfg Register Test (Prueba de registro PCI Cfg)

Grupo B

B1. Scratch Pad Test (Prueba de la memoria a corto plazo)
B2. BD SRAM Test (Prueba de SRAM BD)
B3. DMA SRAM Test (Prueba de SRAM DMA)
B4. MBUF SRAM Test (Prueba de SRAM MBUF)
B5. MBUF SRAM via DMA Test (Prueba de SRAM MBUF a través de DMA)
B6. External SRAM Test (Prueba de SRAM externa)

Grupo C

C1. EEPROM Test (Prueba de EEPROM)
C2. CPU Test (Prueba de CPU)
C3. DMA Test (Prueba de DMA)
C4. MII Test (Prueba de MII)
C5. VPD Test (Prueba de VPD)
C6. ASF Test (Prueba de ASF)
C7. ROM Expansion Test (Prueba de expansión de ROM)

Grupo D

D1. Mac Loopback Test (Prueba de bucle invertido Mac)
D2. Phy Loopback Test (Prueba de bucle invertido Phy)
D3. RJ-45 Loopback Test (Prueba de bucle invertido RJ-45)
D4. MII Miscellaneous Test (Pruebas varias de MII)
D5. MSI Test (Prueba de MSI)

Descripción de las pruebas

A1. Indirect Register Test (Prueba de registro indirecta)

Comando: regtest -i

Función: usa el método de direccionamiento indirecto, escribe datos incrementales en la tabla de registro de hash MAC y lee los datos para su verificación. La lectura y escritura en memoria se realiza 100 veces mientras se incrementan los datos de la prueba.

Valor predeterminado: prueba activada

A2. Control Register Test (Prueba de registro de control)

Comando: regtest

Función: cada registro especificado en el contenido de la configuración define el bit de sólo lectura y el bit de lectura/escritura. La prueba escribe ceros y unos en los bits de prueba para asegurarse de que los bits de sólo lectura no se cambian y que se cambian en consecuencia los bits de lectura/escritura.

Valor predeterminado: prueba activada

Tabla de registro predeterminada

La prueba intentará leer el archivo de configuración del registro ctrlreg.txt para buscar las definiciones del registro. Si el archivo no existe, se utilizarán un offset de registro y bits de máscara predeterminados.

Offset     R/O Mask   R/W Mask
0x00000400 0x00000000 0x007fff8c
0x00000404 0x03800107 0x00000000

A3. Interrupt Test (Prueba de interrupción)

Comando: intrtest

Función: esta prueba verifica la función de interrupción. Activa una interrupción y espera 500 ms a que se produzca la interrupción e informa de un error si no puede generar la interrupción.

Valor predeterminado: activada

A4. BIST

Comando: bist

Función: autoprueba incorporada de hardware (BIST). Esta prueba inicia BIST y espera que el hardware devuelva los resultados de la prueba.

Valor predeterminado: debido al fallo intermitente, esta prueba está actualmente desactivada de forma predeterminada.

A5. PCI Cfg Register Test (Prueba de registro PCI Cfg)

Comando: pcicfg

Función: esta prueba verifica la integridad de acceso de los registros de configuración de PCI.

B1. Scratch Pad Test (Prueba de la memoria a corto plazo)

Comando: memtest -s

Función: prueba la SRAM a corto plazo incorporada. Se realizan las siguientes pruebas:

• Data Pattern Test (Prueba del patrón de datos): escribe los datos de prueba en la SRAM y vuelve a leerlos para asegurarse de que son correctos. Los datos de prueba utilizados son 0x00000000, 0xffffffff, 0xaa55aa55 y 0x55aa55aa.

• Alternate Data Pattern Test (Prueba alternativa del patrón de datos): escribe los datos de prueba en la SRAM. Escribe datos de prueba complementarios en la siguiente dirección. Vuelve a leerlos para asegurarse de que los datos son correctos. Después de la prueba, el programa vuelve a leer los datos una vez más para asegurarse de que siguen siendo correctos. Los datos de prueba utilizados son 0x00000000, 0xffffffff, 0xaa55aa55 y 0x55aa55aa.

• Address Test (Prueba de dirección): escribe cada dirección con datos incrementales únicos. Vuelve a leerlos para asegurarse de que los datos son correctos. Después de rellenar toda la dirección con los datos exclusivos, el programa vuelve a leerlos para asegurarse de que siguen siendo los mismos.

• WalkingOne bit Test (Prueba de bit WalkingOne): Para cada dirección, se escribe el dato uno y se vuelve a leer para su comprobación. Después, desplaza el dato un bit hacia la izquierda, de manera que el dato se convierte en dos, y repite la misma prueba. Repite la prueba 32 veces hasta que el bit de prueba sale de la dirección de prueba. Esta misma prueba se repite para todo el rango de pruebas.

• Pseudo-Random Data Test (Prueba de datos pseudoaleatorios): se utiliza un conjunto de datos seudoaleatorios precalculados para escribir datos únicos en cada RAM de prueba. Después de pasar la prueba, el programa vuelve a leer los datos una vez más para asegurarse de que siguen siendo correctos.

Valor predeterminado: activada

B2. BD SRAM Test (Prueba de SRAM BD)

Comando: memtest -b

Función: prueba la SRAM BD. Esta prueba se realiza de la misma forma que la prueba "Scratch Pad Test" (Prueba de la memoria a corto plazo) descrita en B1.

Valor predeterminado: activada

B3. DMA SRAM Test (Prueba de SRAM DMA)

Comando: memtest -d

Función: prueba la SRAM DMA realizando la prueba "Scratch Pad Test" (Prueba de la memoria a corto plazo) descrita en la prueba B1.

Valor predeterminado: activada

B4. MBUF SRAM Test (Prueba de SRAM MBUF)

Comando: memtest -m

Función: prueba la SRAM DMA realizando la prueba "Scratch Pad Test" (Prueba de la memoria a corto plazo) descrita en la prueba B1.

Valor predeterminado: activada

B5. MBUF SRAM via DMA Test (Prueba de SRAM MBUF a través de DMA)

Comando: memtest -x

Función: en esta prueba se utilizan ocho datos de patrón de prueba. Para esta prueba se utiliza un búfer de datos de 0x1000. Antes de cada prueba del patrón, el búfer se inicializa y se rellena con el patrón de la prueba. A continuación, se aplica DMA de transmisión de 0x1000 desde el búfer del host hasta la memoria MBUF de la NIC. Comprueba la integridad de los datos de MBUF comparándolos con la memoria del host y repite DMA para todo el búfer MBUF. A continuación, aplica DMA de recepción desde la NIC hasta el host. El búfer de prueba de 0x1000 bytes se restablece en cero antes de cada DMA de recepción. Tras comprobar la integridad de los datos, se repite la prueba para todo el rango de SRAM MBUF. A continuación se describen los patrones de prueba.

Patrón de prueba	Descripción
16 00 y 16 FF	Rellena todo el búfer DMA del host con 16 bytes de 00 y después 16 bytes de FF.
16 FF y 16 0	Rellena todo el búfer DMA del host con 16 bytes de 00 y después 16 bytes de FF.
32 00 y 32 FF	Rellena todo el búfer DMA del host con 32 bytes de 00 y después 32 bytes de FF.
32 00 y 32 FF	Rellena todo el búfer DMA del host con 32 bytes de FF y después 32 bytes de 00.
00000000	Rellena todo el búfer DMA del host con ceros.
FFFFFFFF	Rellena todo el búfer DMA del host con FF.
AA55AA55	Rellena todo el búfer DMA del host con datos 0xAA55AA55.
55AA55AA	Rellena todo el búfer DMA del host con datos 0xAA55AA55.

Valor predeterminado: activada

B6. External SRAM Test (Prueba de SRAM externa)

Comando: memtest -e

Función: prueba la SRAM DMA realizando la prueba "Scratch Pad Test" (Prueba de la memoria a corto plazo) descrita en la prueba B1.

Valor predeterminado: desactivada

C1. EEPROM Test (Prueba de EEPROM)

Comando: setest

Función: en la prueba de EEPROM se utilizan datos de prueba de incremento. Introduce los datos de prueba en el rango de prueba y vuelve a leer para verificar el contenido. Después de la prueba, rellena el rango de la prueba con ceros para vaciar la memoria.

Valor predeterminado: activada

C2. CPU Test (Prueba de CPU)

Comando: cputest

Función: esta prueba abre el archivo cpu.bin. Si el archivo existe y el contenido es válido, carga el código en la CPU de recepción y transmisión, y comprueba la ejecución de la CPU.

Valor predeterminado: activada

C3. DMA Test (Prueba de DMA)

Comando: dmatest

Función: se comprueban las prioridades alta y baja de DMA. Traslada los datos desde la memoria del host hasta la SRAM de la NIC, los comprueba y después los vuelve a introducir en la memoria del host para comprobarlos.

Valor predeterminado: activada

C4. MII Test (Prueba de MII)

Comando: miitest

Función: La función es idéntica a la prueba Control Register Test (Prueba de registro de control), A2. Cada registro especificado en el contenido de la configuración define los bits de sólo lectura y de lectura/escritura. La prueba escribe ceros y unos en los bits de prueba para asegurarse de que los valores de los bits de sólo lectura no se cambian y que se cambian en consecuencia los bits de lectura/escritura.

Valor predeterminado: prueba activada

Tabla de registro predeterminada

La prueba intenta leer el archivo de configuración del registro miireg.txt para buscar las definiciones del registro. Si el archivo no existe, se utiliza la siguiente tabla:

Offset 		Máscara de S/L	Máscara de L/E
0x00 		0x0000 		0x7180
0x02 		0xffff 		0x0000
0x03 		0xffff 		0x0000
0x04 		0x0000 		0xffff
0x05 		0xefff 		0x0000
0x06 		0x0001 		0x0000
0x07 		0x0800 		0xb7ff
0x08 		0xffff 		0x0000
0x09 		0x0000 		0xff00
0x0a 		0x7c00 		0x0000
0x10 		0x0000 		0xffbf
0x11 		0x3300 		0x0000
0x19 		0x001f 		0x0000
0x1e 		0x0000 		0xffff
0x1f 		0x0000 		0xffff

C5. VPD Test (Prueba de VPD)

Comando: vpdtest

Función: la prueba VPD guarda el contenido de VPD antes de realizar la prueba. Una vez realizada, escribe uno de los cinco patrones de datos de prueba (0xff, 0xaa, 0x55, datos de incremento o datos de disminución) en la memoria VPD. De forma predeterminada, se utiliza el patrón de datos de incremento. Escribe y vuelve a leer los datos de todo el rango de prueba y, después, restablece el contenido original.

Valor predeterminado: desactivada

C6. ASF Test (Prueba de ASF)

1. Reset test (Prueba de reinicio)

   Establece el bit de reinicio y realiza un sondeo para el autoborrado. Comprueba el valor de reinicio de los registros.

2. Event Mapping Test (Prueba de asignación de sucesos)

   Establece el bit SMB_ATTN. Al cambiar los bits ASF_ATTN LOC, comprueba los bits de asignación en los bits de los sucesos TX_CPU o RX_CPU.

3. Counter Test (Prueba del contador)

C7. ROM Expansion Test (Prueba de expansión de ROM)

Comando: romtest

Función: esta función prueba la capacidad para activar, desactivar o acceder a la ROM de expansión del dispositivo.

D1. Mac Loopback Test (Prueba de bucle invertido Mac)

Comando: pkttest -m

Función: se trata de una prueba de transmisión y recepción de datos en bucle invertido interno. Inicializa MAC en el modo de bucle invertido interno y transmite 100 paquetes. Los datos se deben transmitir al canal de recepción y ser recibidos por la rutina correspondiente, que comprueba la integridad de los datos. Para esta prueba se utiliza una velocidad de 100 megabits salvo que Gigabit esté activado.

Valor predeterminado: activada

D2. Phy Loopback Test (Prueba de bucle invertido Phy)

Comando: pkttest -p

Función: Esta prueba es igual que la "Mac Loopback Test" (Prueba de bucle invertido Mac), D1, excepto en que los datos se devuelven mediante un dispositivo de nivel físico. Para esta prueba se utiliza una velocidad de 100 megabits salvo que Gigabit esté activado.

Valor predeterminado: activada

D3. RJ-45 Loopback Test (Prueba de bucle invertido RJ-45)

D4. MII Miscellaneous Test (Pruebas varias de MII)

Comando: Ninguno

Función: esta función prueba las capacidades de sondeo automático e interrupción Phy. Estas son funciones de PHY.

Valor predeterminado: activada

D5. MSI Test (Prueba de MSI)

Comando: msitest

Función:esta función prueba la capacidad del dispositivo en cuato a interrupción de señales de mensaje. Consulte la definición de MSI en la Especificación PC, versión 2.2.

Valor predeterminado: desactivada

 

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Mensajes de error

/* 0 */ 	"PASS",
/* 1 */ 	"Got 0x%08X @ 0x%08X. (Se ha obtenido 0x%08X @ 0x%08X.) Expected 0x%08X" (Se esperaba 0x%08X).
/* 2 */ 	"Cannot run test while chip is running" (Imposible ejecutar la prueba mientras el procesador está en funcionamiento)
/* 3 */ 	"Invalid NIC device" (Dispositivo NIC no válido)
/* 4 */ 	"Read only bit %s got changed after writing zero at offset 0x%X" (El bit de sólo lectura %s ha cambiado después de escribir cero en el offset 0x%X)
/* 5 */ 	"Read only bit %s got changed after writing one at offset 0x%X" (El bit de sólo lectura %s ha cambiado después de escribir 1 en el offset 0x%X)
/* 6 */ 	"Read/Write bit %s did not get cleared after writing zero at offset 0x%X" (El bit de lectura/escritura %s no se ha borrado después de escribir cero en el offset 0x%X)
/* 7 */ 	"Read/Write bit %s did not get set after writing one at offset 0x%X" (El bit de lectura/escritura %s no se ha establecido después de escribir 1 en el offset 0x%X)
/* 8 */ 	"BIST failed" (Error de BIST)
/* 9 */ 	"Could not generate interrupt" (No se ha podido generar la interrupción)
/* 10 */ 	"Aborted by user" (Anulado por el usuario)
/* 11 */ 	"Tx DMA:Got 0x%08x @ 0x%08x. (DMA de transmisión: Se ha obtenido 0x%08x @ 0x%08x.) Expected 0x%08X" (Se esperaba 0x%08X).
/* 12 */ 	"Rx DMA:Got 0x%08x @ 0x%08x. (DMA de recepción: Se ha obtenido 0x%08x @ 0x%08x.) Expected 0x%08X" (Se esperaba 0x%08X).
/* 13 */ 	"Tx DMA failed" (Error de DMA de transmisión)
/* 14 */ 	"Rx DMA failed" (Error de DMA de recepción)
/* 15 */ 	"Data error, got 0x%08X at 0x%08X, expected 0x%08X" (Error de datos, se ha obtenido 0x%08X en 0x%08X, se esperaba 0x%08X)
/* 16 */ 	"Second read error, got 0x%08X at 0x%08X, expected 0x%08X" (Error de segunda lectura, se ha obtenido 0x%08X en 0x%08X, se esperaba 0x%08X)
/* 17 */ 	"Failed writing EEPROM at 0x%04X" (Error al escribir en EEPROM en 0x%04X)
/* 18 */ 	"Failed reading EEPROM at 0x%04X" (Error al leer en EEPROM en 0x%04X)
/* 19 */ 	"EEPROM data error, got 0x08X at 0x04X, expected 0x%08X" (Error de datos de EEPROM, se ha obtenido 0x08X en 0x04X, se esperaba 0x%08X)
/* 20 */ 	"Cannot open file %s" (No se puede abrir el archivo %s)
/* 21 */ 	"Invalid CPU image file %s" (%s: archivo de imagen de CPU no válido)
/* 22 */ 	"Invalid CPU image size %d" (%d: tamaño de imagen de CPU no válido)
/* 23 */ 	"Cannot allocate memory" (Imposible asignar memoria)
/* 24 */ 	"Cannot reset CPU" (Imposible reiniciar la CPU)
/* 25 */ 	"Cannot release CPU" (Imposible liberar la CPU)
/* 26 */ 	"CPU test failed" (Error de la prueba de CPU)
/* 27 */ 	"Invalid Test Address Range\nValid NIC address is 0x%08X-0x%08X and exclude 0x%08X-0x%08X" (Rango no válido de direcciones de prueba\nLa dirección de NIC válida es 0x%08X-0x%08X y se excluye 0x%08X-0x%08X)
/* 28 */    "DMA:Got 0x%08X @ 0x%08X. (DMA: Se ha obtenido 0x%08X @ 0x%08X.) Expected 0x%08X" (Se esperaba 0x%08X).
/* 29 */    "Unsupported PhyId %04X:%04X" (Id de Phy %04X:%04X incompatible)
/* 30 */    "Too many registers specified in the file, max is %d" (Demasiados registros especificados en el archivo, el número máximo es %d)
/* 31 */ 	"Cannot write to VPD memory" (Imposible escribir en la memoria VPD)
/* 32 */ 	"VPD data error, got %08X @ 0x04X, expected %08X" (Error de datos de VPD, se ha obtenido %08X @ 0x04X, se esperaba %08X)
/* 33 */ 	"No good link! Check Loopback plug" (Enlace no válido. Compruebe el conector de bucle invertido)
/* 34 */ 	"Cannot TX Packet!" (Imposible transmitir el paquete)
/* 35 */ 	"Requested to Tx %d. Only %d is transmitted" (Se ha solicitado la transmisión de %d. Sólo se transmite %d)
/* 36 */	"Expected %d packets. Only %d good packet(s) have been received\n%d unknown packets have been received.\n%d bad packets have been received.",(%d paquetes esperados. Sólo se han recibido %d paquetes válidos\n%d paquetes desconocidos recibidos.\nSe han recibido %d paquetes no válidos).
/* 37 */ 	"%c%d is an invalid Test" (%c%d es una prueba no válida)
/* 38 */ 	"EEPROM checksum error" (Error de suma de comprobación de EEPROM)
/* 39 */ 	"Error in reading WOL/PXE" (Error al leer WOL/PXE)
/* 40 */ 	"Error in writing WOL/PXE" (Error al escribir WOL/PXE)
/* 41 */ 	"No external memory detected" (No se ha detectado memoria externa)
/* 42 */ 	"DMA buffer %04X is large, size must be less than %04X" (El búfer de DMA %04X es demasiado grande, su tamaño debe ser inferior a %04X)
/* 43 */ 	"File size %d is too big, max is %d" (El archivo %d es demasiado grande, el tamaño máximo es %d)
/* 44 */ 	"Invalid %s" (%s no válido)
/* 45 */ 	"Failed writing 0x%x to 0x%x" (Error al escribir 0x%x en 0x%x)
/* 46 */ 	"",
/* 47 */ 	"Ambiguous command" (Comando ambiguo)
/* 48 */ 	"Unknown command" (Comando desconocido)
/* 49 */ 	"Invalid option" (Opción no válida)
/* 50 */ 	"Cannot perform task while chip is not running. (need driver)" (Imposible realizar la tarea mientras el procesador no está en funcionamiento. Se necesita el driver)
/* 51 */ 	"Cannot open register define file or content is bad" (Imposible abrir el registro; el archivo o el contenido definido no es válido)
/* 52 */ 	"ASF Reset bit did not self-cleared" (El bit de reinicio de ASF no se ha autoborrado)
/* 53 */ 	"ATTN_LOC %d cannot be mapped to %cX CPU event bit %d" (Imposible asignar ATTN_LOC %d al bit %d de suceso de CPU %cX)
/* 54 */ 	"%s Regsiter is not cleared to zero after reset" (El registro %s no se pone a cero después de reiniciar)
/* 55 */ 	"Cannot start poll_ASF Timer" (Imposible iniciar el temporizador de poll_ASF)
/* 56 */ 	"poll_ASF bit did not get reset after acknowleged" (El bit poll_ASF no se ha restablecido después de la confirmación de recepción)
/* 57 */ 	"Timestamp Counter is not counding" (El contador de fecha y hora no funciona)
/* 58 */ 	"%s Timer is not working" (El temporizador %s no funciona)
/* 59 */ 	"Cannot clear bit %s in %cX CPU event register" (Imposible borrar el bit %s en el registro de sucesos de CPU %cX)
/* 60 */ 	"Invalid "EEPROM_FILENAME" file size, expected %d but only can read %d bytes" (Tamaño del archivo "EEPROM_FILENAME" no válido, se esperaba %d pero sólo se han podido leer %d bytes)
/* 61 */ 	"Invalid magic value in %s, expected %08x but found %08x" (Valor de magic no válido en %s, se esperaba %08x pero se ha obtenido %08x)
/* 62 */ 	"Invalid manufature revision, expected %c but found %c" (Revisión de fabricación no válida, se esperaba %c pero se ha obtenido %c)
/* 63 */ 	"Invalid Boot Code revision, expected %d.%d but found %d.%d" (Revisión no válida del código de inicio, se esperaba %d.%d pero se ha obtenido %d.%d)
/* 64 */ 	"Cannot write to EEPROM" (Imposible escribir en EEPROM)
/* 65 */ 	"Cannot read from EEPROM" (Imposible leer de EEPROM)
/* 66 */ 	"Invalid Checksum" (Suma de comprobación no válida)
/* 67 */ 	"Invalid Magic Value" (Valor de magic no válido)
/* 68 */ 	"Invalid MAC address, expected %02X-%02X-%02X-%02X-%02X-%02X" (Dirección MAC no válida, se esperaba %02X-%02X-%02X-%02X-%02X-%02X)
/* 69 */ 	"Slot error, expected an UUT to be found at location %02X:%02X:00" (Error de ranura, se esperaba encontrar un UUT en la ubicación %02X:%02X:00)
/* 70 */ 	"Adjacent memory has been corrupted while testing block 0x%08x-0x%08x\nGot 0x%08x @ address 0x%08x. Expected 0x%08x" (La memoria adyacente se ha dañado durante la prueba del bloque 0x%08x-0x%08x.\nSe ha obtenido 0x%08x @ dirección 0x%08x. Se esperaba 0x%08x)
/* 71 */ 	"The function is not Supported in this chip" (El procesador no admite la función)
/* 72 */ 	"Packets received with CRC error" (Paquetes recibidos con error de CRC)
/* 73 */ 	"MII error bits set: %04x" (Bits de error de MII establecidos: %04x)
/* 74 */ 	"CPU does not initialize MAC address register correctly" (La CPU no inicializa correctamente el registro de direcciones MAC)
/* 75 */ 	"Invalid firmware file format" (Formato de archivo de firmware no válido)
/* 76 */ 	"Resetting TX CPU Failed" (Error al reiniciar CPU de transmisión)
/* 77 */ 	"Resetting RX CPU Failed" (Error al reiniciar CPU de recepción)
/* 78 */ 	"Invalid MAC address" (Dirección MAC no válida)
/* 79 */ 	"Mac address registers are not initialized correctly" (Los registros de direcciones MAC no se inicializan correctamente)
/* 80 */ 	"EEPROM Bootstrap checksum error" (Error de suma de comprobación del comando de inicio de EEPROM)

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